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详细先容
结论⑴CAF爆发的历程可以分为两个阶段思量,即水解历程和电化学迁徙历程,这两个历程相互之间是**的;指定板材、孔壁间距下的水解时间是一定的,且随着孔壁间距的上升近似成正比关系上升;通过外加较高偏压(如500V)的试验,可以确定指定板材、间距下的水解时间;⑵平均CAF失效时间(MTF)=水解时间(T1)+电化学迁徙时间(T2),当外加偏压较大(100V以上)时,电化学迁徙速率快于水解速率,平均CAF失效时间(MTF)取决于水解时间(T1),靠近于质料在指定孔壁间距下的水解时间;当外加偏压较。10V以下)时,水解速率快于电化学迁徙速率,平均CAF失效时间(MTF)取决于电化学迁徙时间(T2);⑶通过对BellLabs模子公式的推导,可以将公式简化为,再通过指定板材在某些外加偏压下的失效时间数据,线性拟合获得常数e和f,便能够较好地推算出指定板材在差别外加偏压下平均失效时间的基本趋势和寿命的大致规模;为后续其他板材平均CAF失效寿命的研究提供了理论依据和试验基础。常州中策仪器有限公司拥有CAF测试系统;若有需要,接待来电咨询噢;四川高分子质料CAF测试系统用途
水解和电化学迁徙的**性研究(1)无外加偏压下的水解情形图6为质料A制作的试验板中孔壁间距为0.2mm的?樵谒85条件(温度85℃、湿度85%RH)无外加偏压下安排96h后的孔壁情形切片图
若是外加偏压对水解速率有显着的加速或延缓,由于各个条件下的静置时间和加电时间是各不相同的,那么4种情形(划分静置0、2、4、8小时再加外加偏压)下的总失效时间应有较大误差。但从现实数据来看,所有孔壁间距下的4种情形的总失效时间并没有太**动。因此,可以推断外加偏压对水解时间的影响可以忽略不计,外加偏压关于水解速率没有显着的加速或延缓。如图6所示,在无外加偏压的情形下,在两孔间也爆发了显着的树脂与玻纤疏散的征象,证实晰水解这一历程在无外加偏压的情形下也会爆发。(2)外加偏压对水解的影响外加偏压虽然不是水解历程的须要条件,但要确定是否在一定水平上加速或延缓了水解速率,使得水解时间爆发转变。因此设计以下试验验证:将质料A制作的试验板,在双85条件下静置0小时、2小时、4小时、8小时后,划分施加500V外加偏压,获得设计孔壁间距0.2、0.25、0.3mm下的失效时间,如表1: 北京第三方检测CAF测试系统功效常州中策仪器有限公司拥有CAF测试系统,若有需要,接待咨询;
可是效果显示,微蚀之后,样品外貌的铜确实没有了,可是树枝状生长依然还在,只是从之前的红色酿成了白色,就似乎一个朴陋一样平常。由此我们可以看出,之前所视察到的迁徙征象确实保存,并且是在表层阻焊油墨的内部,直接在阻焊油墨内里打了一个又一个的洞,通过微蚀之后,内里的铜没有了,**终就只留下了一个又一个的朴陋。这个效果说明该产品所使用的阻焊油墨保存误差,有可能是固化不到位导致的,也有可能是阻焊油墨自己保存问题,同时,通过视察,该样品阻焊油墨与基材之间也同样保存迁徙
CAF形成的影响因素关于制品PCB,CAF的形成主要影响因素有:PCB设计,板材配本,PCB加工历程。以下就这些影响因素举行剖析。2.2.1PCB设计的影响在PCB的结构中孔的排列方法对CAF性能影响较大,孔的排列方法差别,其CAF效应差别,一样平常保存三种排列方法(如图3所示)。三种排列方法中耐CAF性能由强到弱的序次为:错位排列>纬向排列>经向排列。缘故原由如下:(1)CAF的爆发主要是沿着玻璃纱束的偏向举行,错位排列可以对CAF的爆发形成迂回作用,从而禁止易爆发CAF失效。(2)纬向玻璃纱相比经向扁平松散,树脂的浸润性更好,同时钻孔的裂伤也会比经向的稍微,以是其耐CAF性能也好一些。2.2.2板材配本的影响众所周知,覆铜板是由半固化片(Prepeg)和铜箔压制而成,而差别的半固化片,其CAF性能保存很大的差别,这主要取决于其所用的玻纤布的编织结构。以下为三种通俗玻纤布的物理编织结构。这三种编织结构的树脂含量及浸润性优势比照(图4):1080>2116>7628,即1080PP片禁止易爆发CAF失效。中策仪器永远是您可信任的朋侪和相助同伴,始终期待与您一起共享乐成。
SEM&EDS(能散X线光谱仪)剖析SEM&EDS是用聚焦的很细的电子束照射被检测的试样外貌,通过检测二次电子或背散射电子信息举行形貌视察,同时丈量电子与试样相互作用所爆发的特征X-射线的(频率)波长与强度,从而对细小区域所含元素举行定性或定量剖析;谝陨显,将上述剖切好的切片失效区域使用SEM视察其外观(如图9所示),同时使用EDS对不良区域举行元素剖析。在正常区一样平常由碳、氧、镍等元素组成,而有CAF通过的区域除有正常元素保存外,尚有铜、溴、氯等元素(见表1)。常州中策仪器有限公司拥有CAF测试系统,若有需要接待来电哦;北京第三方检测CAF测试系统功效
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CAF是指印制线路板内部在电场作用下跨越非金属基材而迁徙传输的导电性金属盐组成的电化学迁徙。它通常爆发在印制线路板基材中沿玻璃纤维到树脂的界面上,从而导致两个相邻的导体之间绝缘性能下降甚至造成短路(见图1),是印制线路板爆发电气故障的一个重大并且具有潜在危险的泉源。随着电子装备在提高功效和性能的同时也向小型化、轻量化迅速生长,印制线路板的线路也越来越细,间距越来越小,绝缘层越来越薄,钻孔尺寸也向更小更密的偏向生长,并且由于信息传输速率的提升,使得印制板所遭受的事情温度也在一直地上升。四川高分子质料CAF测试系统用途
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